在測壓敏電阻漏流時,顯示漏流值為什么漸漸上升至穩定,短時間內測同一個元器件,測出的數據為什么不一致?
被測壓敏電阻在測試時,由于元器件內部溫度影響,測漏流時,大電流的沖擊,壓敏電阻內部溫度變 化比較大,漏電流隨著溫度的變化而變化,最后趨于穩定。氣體放電管內部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下,短時間內難以恢復原來狀態必須經過一段時間恢 復,才能獲得準確結果,保證重復測試精度。